Programma Seminari Digitali Rohde & Schwarz

Analisi di Spettro - Fondamenti

Martedì 7 aprile 2020

   10:00

Giovedì 9 aprile 2020

   15:00

1 ora
Alessandro Titta
In lingua italiana


L’Analisi di spettro dai concetti teorici a come è stata realizzata nell'applicazione pratica con descrizione dello schema a blocchi e del funzionamento dettagliato e lo sviluppo attuale dei più moderni Analizzatori di segnali.

Basic of Signal Integrity – Eye diagram and Jitter measurement with high bandwidth, real time, hw accelerated oscilloscopes

Martedì 7 aprile 2020

   15:00

Venerdì 10 aprile 2020

   10:00

1 ora
Tommaso Tessitore
In lingua italiana


L’uso dei dati seriali è sempre più diffuso in tutte le applicazioni elettroniche e la richiesta di prestazioni sempre maggiori ne ha fatto crescere la velocità in maniera esponenziale (da centinaia di Mbit/s a decine di Gbit/s). Ad applicazioni che già ne fanno largo uso da tempo, come quelle Telecom e Datacom, se ne affiancano oggi altre, come quelle dell’Aerospazio e della Difesa e soprattutto quelle del mondo Automotive.
Questa presentazione è indirizzata a tutti coloro che si affacciano per la prima volta all’analisi di dati seriali veloci (Gbit/s).

Fornisce un’idea di quelle che sono le problematiche della integrità del segnale e indica le misure di base, come il diagramma dell’occhio (Eye diagram) e le misure di jitter, necessarie a garantire progetti affidabili con tempi di sviluppo ridotti.

A scopo esplicativo verranno effettuate delle misure “live” su un dispositivo USB3.1.

L'importanza del tempo di misura corretto nelle prove EMI

Giovedì 9 aprile 2020

   10:00

Venerdì 17 aprile 2020

   10:00

1 ora
Luca Colombo
In lingua italiana


Scegliere il tempo di pesatura giusto è di fondamentale importanza. Ci permette di effettuare la misura dei disturbi emessi, sia condotti che irradiati, in maniera corretta e ripetibile. Consente di avere una conoscenza migliore del nostro prodotto e fornisce un' informazione fondamentale per la fase certificazione.

Insieme vedremo come misurarlo e come utilizzarlo durante le prove. Analizzeremo le implicazioni sia per i ricevitori "stepped scan" che per i ricevitori "FFT" con alcuni esempi pratici.

Analisi Vettoriale - Fondamenti

Martedì 14 aprile 2020

   10:00

Giovedì 16 aprile 2020

   15:00

1 ora
Alessandro Titta
In lingua italiana


L’analisi dei segnali dai concetti teorici alla realizzazione pratica di sistemi scalari con successivo sviluppo dell’analisi vettoriale e delle tecniche di correzione degli errori.

Basic of Signal Integrity – De-embedding & TDR/TDT with high bandwidth, real time, hw accelerated oscilloscopes.

Martedì 14 aprile 2020

   15:00

Giovedì 16 aprile 2020

   10:00

1 ora
Tommaso Tessitore
In lingua italiana


L’uso dei dati seriali è sempre più diffuso in tutte le applicazioni elettroniche e la richiesta di prestazioni sempre maggiori ne ha fatto crescere la velocità in maniera esponenziale (da centinaia di Mbit/s a decine di Gbit/s). Ad applicazioni che già ne fanno largo uso da tempo, come quelle Telecom e Datacom, se ne affiancano oggi altre, come quelle dell’Aerospazio e della Difesa e soprattutto quelle del mondo Automotive.

Questa presentazione è indirizzata a tutti coloro che si affacciano per la prima volta all’analisi di dati seriali veloci (Gbit/s). In questa seconda parte verrà illustrato il concetto di De-embedding, i benefici di poterlo effetture in tempo reale ed il concetto di base di matrice di scattering o S-Parameter.

Verranno illustrati i principi base della riflettometria nel dominio del tempo (TDR) e della trasmissione nel dominio del tempo (TDT) e come questi possono essere utili nella caratterizzazione di un link seriale veloce.
Infine ci sarà una dimostrazione reale di Real-Time De-embedding su un dispositivo USB3.1.

Analisi avanzate con l'ultilizzo dell'oscilloscopio

(in collaborazione con Batter Fly)

Mercoledì 15 aprile 2020   10:00

1 ora
Luigi Lorusso
In lingua italiana



Le innumerevoli possibilità di analisi multidominio degli oscilloscopi di ultima generazione.

Caratterizzazioni phase noise PLL, VCO

Martedì 21 aprile 2020

   10:00

Giovedì 23 aprile 2020

   15:00

1 ora
Alessandro Titta
In lingua italiana


Il rumore di fase di un segnale e sue caratteristiche principali, relativi sistemi di misura e il loro sviluppo fino ai moderni sistemi di demodulazione digitale.

Caratterizzazione dei convertitori di potenza con gli oscilloscopi digitali

(in collaborazione con Batter Fly)

Mercoledì 22 aprile 2020   10:00

1 ora
Luigi Lorusso
In lingua italiana



Tecniche di analisi e misure dei più comuni convertitori di potenza DC/DC e verifica del probing più adeguato.

Broadband & Radar Signal Analysis with High Performance Oscilloscopes

Martedì 21 aprile 2020

   15:00

Giovedì 23 aprile 2020

   10:00

1 ora
Victor Medina
In lingua inglese


Broadband signals can be found more and more in a wide variety of applications. From radar technology to mobile communications, bandwidths bigger than several GHz are required. High performance oscilloscopes may be a useful tool for the test and analysis of such kind of signals. Some new features and measurements are presented, as well as practical cases.

Analisi di segnali a larga banda in modalità "real time"

Venerdì 24 aprile 2020   10:00

1 ora
Tommaso Tessitore, Alessandro Titta
In lingua italiana


Comprendere il "Real Time" nel contesto degli analizzatori di spettro R&S; differenze e vantaggi rispetto alle modalità di acquisizione tradizionali.
Implementazione del Real Time e del processing FFT, ambiti di applicazioni, modalità di misura e visualizzazione.

Detector Characterization in Electrical and Optical sensor devices

Martedì 28 aprile 2020   10:00

1 ora
Victor Medina
In lingua inglese


Your mission: detection of low-level signals at the output of optical and electrical sensor devices. In this presentation you will learn how to successfully characterize these devices by means of statistical parameters and histograms with a high performance oscilloscope. In parallel important hints and new features in oscilloscopes are presented in order to better do the job.

Meet the speakers

Alessandro Titta

Appl. Field Engineer VNA, S.A., R&S Italia

Tommaso Tessitore

Oscilloscopes Sales Specialist South Europe, R&S Italia

Luigi Lorusso

Inside Sales Engineer Value Instruments R&S Italia

Luca Colombo

EMI EMC Appl Field Engineer R&S Italia

Victor Medina

Appl. Engineer R&S Spagna

Roberto Cosentino

Application and Radio Access Network Engineer, R&S Italia

Il tuo contatto

Ornella Crippa
Marketing & Communications
Rohde & Schwarz Italia SpA
ornella.crippa@rohde-schwarz.com
(Mob.: 335-5759114) 

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